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()是指设备存在过热,程度较重,温度场分布梯度较大,温差较大的缺陷。

  • 2024-01-14 11:55:02
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()是指设备存在过热,有一定温差,温度场有一定梯度,但不会引起事故的缺陷。

  • 2024-01-14 11:55:02
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对于磁场和漏磁引起的过热可根据()设备的判据进行处理。

  • 2024-01-14 11:55:02
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红外热像检测判断方法中,()在一段时间内使用红外热像仪连续检测某被测设备,观察设备温度随负载、时间等因素变化的方法。

  • 2024-01-14 11:55:01
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红外热像检测判断方法中,()分析同一设备不同时期的温度场分布,找出设备致热参数的变化,判断设备是否正常。

  • 2024-01-14 11:55:01
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红外热像检测判断方法中,()主要适用于电流致热型设备。特别是对小负荷电流致热型设备,采用该法可降低小负荷缺陷的漏判率。对电流致热

  • 2024-01-14 11:55:01
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红外测温适用于电压致热型设备的判断方法是()。

  • 2024-01-14 11:55:01
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红外热像检测判断方法中,()主要适用于电压致热型设备。根据同类设备的正常状态和异常状态的热像图,判断设备是否正常。

  • 2024-01-14 11:55:01
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红外热像检测判断方法中,()是根据同组三相设备、同相设备之间及同类设备之间对应部位的温差进行比较分析。

  • 2024-01-14 11:55:01
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红外热像检测判断方法中,()主要适用于电流致热型和电磁效应引起发热的设备。根据测得的设备表面温度值,对照GB/T11022中相关

  • 2024-01-14 11:55:01
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