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多探头法主要是通过增加（）来提高检测速度，发现各种取向的缺陷。

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多探头法是使用（）个以上的探头组合在一起进行检测的方法。

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双探头法中并列式扫查主要是用来发现与检测面（）的缺陷。

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双探头法中K形扫查、串列式扫查主要都是用来发现与检测面（）的面状缺陷。

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单探头法检测与波束线平行的（）缺陷难以检出。

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单探头法检测对于与波束轴线（）的面状缺陷和立体型缺陷的检出效果最好。

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爬波也叫纵向头波，是指沿介质表面下一定距离处在（）之间传播的峰值波。

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对于垂直线性良好的仪器，回波（）成正比，可将AVG曲线直接绘制在仪器示波屏面板上，称为AVG面板曲线。

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有一钢工件厚度为200mm，已知第五次底面回波与第二次底面回波相差9.5dB，材质的衰减系数是（）dB/mm。

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测定衰减系数时要求工件厚度大于（）近场区长度。

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