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红外测温对于( )引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。
2024-01-19 13:07:18
五通题库(多选)--电气试验班
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红外测温对于( )引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。
A.电场
B.磁场
C.漏磁
D.漏电
正确答案是BC
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红外测温对待测设备的要求是( )。
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红外测温检测中,属于电压致热型的缺陷为()。