待试设备绕组幅频响应特性曲线中波峰或波谷（___）的变化，是分析待试设备绕组变形的重要依据

待试设备绕组幅频响应特性曲线中波峰或波谷（___）的变化，是分析待试设备绕组变形的重要依据

A.分布位置

B.数量

C.峰值

D.位移

正确答案是AB

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