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红外热成像检测发现缺陷时,若是由两种或两种以上因素引起的,应综合判断缺陷性质。对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据
2024-01-17 18:30:21
永州变电运维专业五通判断试卷总(2366题)
红外热成像检测发现缺陷时,若是由两种或两种以上因素引起的,应综合判断缺陷性质。对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。
A.正确
B.错误
正确答案是B
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红外精确检测要求检测期间天气为阴天、多云天气、夜间或晴天日落1h后。
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红外热像检测,对电流致热型设备,发热点温升值小于15K时,宜采用相对温差判断法。