红外热成像检测发现缺陷时，若是由两种或两种以上因素引起的，应综合判断缺陷性质。对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。
A.正确
B.错误
正确答案是B
红外热成像检测发现缺陷时，若是由两种或两种以上因素引起的，应综合判断缺陷性质。对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据
- 2024-01-17 07:15:26
- 20180711湖北五通运维判断
红外热成像检测发现缺陷时，若是由两种或两种以上因素引起的，应综合判断缺陷性质。对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。
A.正确
B.错误
正确答案是B