假定某晶片生产过程检测发现晶片的DPU=1,缺陷的出现是完全随机的且服从泊松分布，则随机抽取一片晶片，该晶片没有缺陷的概率近似为

假定某晶片生产过程检测发现晶片的DPU=1,缺陷的出现是完全随机的且服从泊松分布，则随机抽取一片晶片，该晶片没有缺陷的概率近似为：

A.A 50%

B.B 0%

C.C 37%

D.D 10%

正确答案是C