测量介损tgδ通常不能发现的设备绝缘缺陷是()

测量介损tgδ通常不能发现的设备绝缘缺陷是()

A.整体受潮

B.整体劣化

C.小体积试品的局部缺陷

D.大体积试品的局部缺陷

正确答案是D